Ardic P300原子力显微镜

产品特点

l   适合各种纳米材料及薄膜的表面粗糙度或表面形貌测量。

l   无需抽真空，可快速得到测量结果

l   直观的操作界面

l   一键扫描的快速功能

产品概述

    可应用于高解析影像和测量需求，特别是具备次纳米级的 Z 轴分辨率。其低噪声和开回路设计于一体的扫描仪可以快速地针对样本进行扫描。独特光像散式的光路模块提供业界*小的雷射光点，让用户可运用于更小且快速的AFM 探针。

    直观的数据撷取软件 PSX，只需简单培训，即可直接操作。值得一提的是，一键扫描功能可自动设定参数并进行扫描，用户同样能够快速获得高质量的扫描结果。PSX 内置的扫描库管理功能可以有效地简化扫描数据的整理，以方便用户删除或输出扫描图文件。

    **性的光路校准系统---雷射点实时维持在四象限二极管中心，不须另外校正。

    一键扫描，运用智能预测算法，轻松点击按键便可进行全自动扫频、下针、做力图曲线、以及扫描样品等相关流程。