SCI-02A Zeta电位粒度测量仪

SCI-02A Zeta电位粒度测量仪

一 主要用途：

Zeta电位粒度测量仪采用全量程米氏散射及电泳原理，可以测悬浮于液体中的纳米颗粒表面都存在电荷和粒径分布，通过Zeta电位粒度测量，可以帮助工程师找到阻止颗粒絮凝、保持悬浮液稳定的配方，同样也可以帮助工程师找到促使颗粒絮凝（废水处理），加速颗粒沉淀的方法，经过多年的不断深度开发和完善，业已成为行业中便捷仪器之一。

二 技术参数：

1、采用全量程米氏散射及电泳原理

2、粒度测试范围：0.1-800μm

3、电位值范围：-500mV ～ +500mV

4、重复性误差、准确性误差：＜1%

5、测量方式：氦氖气体光源，自动上水，自动对中，100W超声和高至3000转/分钟可调反向涡轮搅拌双级分散，支持一键式全自动和手动粒径分析。

6、zeta的测量过程采用视频追踪技术，可捕捉胶体颗粒在电场中的泳动轨迹。

7、采用恒压低频转换电源, 既可以防止极化，又可以大大提高测量速度，正负换向时间为 0.30 秒至 1.20秒连续可调，采样时间仅需 3～10 秒，电极间电压可根据需要调节。

8、标配PC端应用软件，预装应用程序和驱动程序的数据采集处理微机操作系统，与设备相连，运行专业软件，对设备进行设置和控制，显示、存储运行数值和曲线。