透射电镜元素分析系统

面议
产品摘要
透射电镜元素分析系统由牛津仪器科技(上海)有限公司提供。
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产品参数
型号
Xplore TEM
范围
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应用行业
铜、铁等合金的金属元素分析;
产品详情

Xplore TEM是专门为120kV和200kV 透射电镜(TEM)的常规应用而设计的元素分析系统。使用新的 80mm2 传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器件 , 为用户提供快速和准确的元素表征。

  • 0.1 - 0.4 srad的立体角

  • 从Be到Cf的元素检测

  • 可在200,000cps的计数率下进行定量分析

  • SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利性