仪电物光SGW®X-4显微熔点仪
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产品摘要
仪电物光SGW®X-4显微熔点仪由上海仪电物理光学仪器有限公司提供。
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产品参数
型号
DSC-1550高温差热分析仪
产品详情
上海仪电物光SGW®X-4显微熔点仪
【产品介绍】
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、燃料、香料等晶体有机化合物之测定。仪器采用显微镜观察方法，既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
上海仪电物光SGW®X-4显微熔点仪
【主要技术参数】
仪器型号 | SGW® X-4 |
测量范围 | 室温~320 ℃ |
测量方法 | 目视 |
测量模式 | 毛细管法、热台法 |
*小示值 | 1℃ |
重复性 | ≤200℃±1℃，＞200±2℃ |
观察方式 | 单目显微镜 |
放大镜倍数 | 40× |
电源 | 220V±22V，50Hz±1Hz |
仪器尺寸 | 215×140×395mm |
仪器净重 | 3.5kg |
【熔点仪，显微热分析仪易耗品选购】
毛细管：90mm适用于WRS系列仪器、120mm适用于WRR系列仪器。 |
标准物质：奈、乙二酸、蒽醌等。 |
载玻片/盖波片：适用仪器WRX-2S、SGW® X-4系列 |
代办服务：提供仪器校验、3Q认证。 |
