尺寸
470mm(W)× 365mm(D)× 130mm(H)cm
测量元素
Si、P、S、Cl(可选择B~Cl中的任意元素组合)
检测限(300s)
Si:1.0ppm,P:0.6ppm,S:0.2ppm,Cl:0.15ppm
线性误差分析精度
测S:满足GB/T 11140,ISO20884,SH/T 0842,ASTM D2622、D7039、D7220等的相关要求。 测Si:满足ASTM D7757,SH/T 0706,SH/T 0058等的相关要求。测Cl:满足ASTM D7536,ISO 15597,SH/T 0161等的相关要求。测P:满足ASTM D6481,SH/T 0296,SH/T 0631等的相关要求。
系统测量时间
1~999s,1~999s,推荐值:微量测量为300s,常量测量为60s
使用条件
环境温度:5~40℃,相对湿度:≤85%(30℃)
X射线管
电压:≤50keV,电流:≤2mA,功率≤50W,靶材:Ag(Mo、Rh、Pd、Cr等可选)
探测器
SDD,有效面积:20mm2,分辨率:≥123eV,计数率:≤2Mcps,入射窗:石墨烯